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HT-E8-SPRX射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀ROSH檢測(cè)儀 HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF），光路系統(tǒng)、散熱系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及軟件算法，使HeLeeX E8-SPR在測(cè)試精密度、準(zhǔn)確度和操作便捷性上超越國(guó)內(nèi)外同類產(chǎn)品，其的性能被廣泛的應(yīng)用于RoHS/HF檢測(cè)、重金屬檢測(cè)、合金成分分析、貴金屬檢測(cè)、鍍層測(cè)試、土壤成分分析、礦石成分分析等領(lǐng)域，并得到第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、上市企業(yè)以及其他中小型企業(yè)用戶的。

一、應(yīng)用領(lǐng)域：

測(cè)試性能：

X射線熒光光譜儀ROSH檢測(cè)儀 ? RoHS /ELV無(wú)鹵指令（Pb、Cd、Hg、Cr、Br、Cl），檢測(cè)范圍：2ppm-99.99%（鹵素檢測(cè)范圍：30ppm-90%）測(cè)試精度：測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)樣品EC681M中的鉛（69.7ppm）7次絕對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差小于1.5。;

? 鍍層分析：各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn、Cr等檢測(cè)范 圍：0.001um-30um，：檢測(cè)最外層鍍層厚度為1um左右的鍍層7次相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差小于5%；

? 合金分析：鋼鐵、銅類等成分分析，檢測(cè)元素范圍：Na-U，檢測(cè)濃度范圍：50ppm-99.99%。7次測(cè)試重復(fù)性：相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差小于0.1%（含量5%左右）

二、儀器特點(diǎn)：

儀器外圍配置

? HeLeeX E8-SPR采用模塊化分體式X射線準(zhǔn)直器技術(shù)，根據(jù)用戶需求，可快速配置Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ7mm中的任意四種準(zhǔn)直器。滿足樣品中不同大小點(diǎn)測(cè)試需求。

1、 儀器特